複折射測量



PA-100　２次元雙折射評估裝置【特徵】雙折射的面內分佈高速　　　　定量評估【用途】鏡片、光碟、導光板等等的　　　　　成形品、偏光子、波長板等　　　　　等的光學元件	WPA-100　２次元雙折射評估裝置【特徵】可測量1000nm以上的位相差【用途】鏡片、光碟、導光板等等　　　　　的成形品、偏光子、波長板等　　　　　等的光學元件	PI-100　偏光影像感應器攝影機【特徴】可進行偏光影像的動畫攝影【用途】雷射偏光Profile測量　　　　　即時2D偏光測量